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超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统
(美)MICHAEL L.BUSHNELL VISHWANI d.AGRAWAL著 蒋 安平 冯建华 王新安译你有多喜欢这本书?
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(美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著;蒋安平,冯建华,王新安译.超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统.北京市:电子工业出版社,2005.07.
年:
2012
出版社:
电子工业出版社
语言:
chinese
页:
603
ISBN 10:
7121014904
ISBN 13:
9787121014901
文件:
PDF, 49.82 MB
您的标签:
IPFS:
CID , CID Blake2b
chinese, 2012
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